薄膜测厚仪适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试,还可适用于纸张、纸板的厚度测试、箔片、硅片、金属片的厚度测试、纺织材料的厚度测试、固体电绝缘体的厚度测试。 ●技术参数 1、分度值0.001mm 量程0-12mm 2、上下测量面为凸/平面时,上测量面的曲率半径在15-50(mm)时,其测量面对试样施加的负荷为0.1N到0.5N之间。 3、测量精度 100um以内 精度1um 100um到250um 精度2um 250um以上 精度3um 4、外型尺寸:160×140×200mm 5、整机重量:1.5kg
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薄膜测厚仪适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试,还可适用于纸张、纸板的厚度测试、箔片、硅片、金属片的厚度测试、纺织材料的厚度测试、固体电绝缘体的厚度测试。 ●技术参数 1、分度值0.001mm 量程0-12mm 2、上下测量面为凸/平面时,上测量面的曲率半径在15-50(mm)时,其测量面对试样施加的负荷为0.1N到0.5N之间。 3、测量精度 100um以内 精度1um 100um到250um 精度2um 250um以上 精度3um 4、外型尺寸:160×140×200mm 5、整机重量:1.5kg
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薄膜测厚仪适用于塑料薄膜、薄片的厚度测试,还可适用于纸张、纸板的厚度测试、箔片、硅片、金属片的厚度测试、纺织材料的厚度测试、固体电绝缘体的厚度测试。 ●技术参数 1、分度值0.001mm 量程0-12mm 2、上下测量面为凸/平面时,上测量面的曲率半径在15-50(mm)时,其测量面对试样施加的负荷为0.1N到0.5N之间。 3、测量精度 100um以内 精度1um 100um到250um 精度2um 250um以上 精度3um 4、外型尺寸:160×140×200mm 5、整机重量:1.5kg 更新时间:2024/4/19 8:06:51 标签:LBT-35型 塑料薄膜和薄片测厚仪 |